日本电子株式会社(JEOL Ltd.,总裁：大井 泉）宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微分析仪JXA-iSP100.
开发背景
电子探针显微分析仪(EPMAs)作为研究和分析工具被广泛用于钢铁、汽车、电子零件和电池材料等工业领域。此外，在学术领域 ，EPMAs用于地球空间科学、材料科学领域，不仅涵盖矿物能源研究，而且涉及新型材料研究，从而为各种前沿研究做出贡献。随着EPMA应用的增加，EPMA用户需要具有高度可操作性的简单快速的分析，同时也要在特定感兴趣区域保持高质量的痕量元素分析性能。为满足这些需求，从观察（光学和SEM图像）到分析，JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支持与波谱仪(WDS)、能谱仪(EDS)、阴极发光(CL)及其他技术的无缝集成。
主要特性
集成EPMA可实现简单快速的操作
1. 高通量
任何人都能高精度无缝操作，从试样交换到微区确定。
2. 高准确度分析
任何人都能够在短时间内获得高质量的分析数据。
3. 易于维护
由于仅在需要时才自动执行维护，因此每个人都可以将EPMA系统维持在最佳状态。
JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可扩展性，能配备WDS和EDS系统，还可配备做化学价态分析的软X射线发射分光仪(SXES)、做晶体取向分析的电子背散射衍射系统(EBSD)、以及阴极发光检测器(CL)。
Note: EPMA 是“Electron Probe Microanalyzer”的缩写.
年度销售目标70台
